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[模拟] 新型数字电容隔离器提升了高性能标准

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发表于 2012-6-4 13:49:50 | 显示全部楼层 |阅读模式

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                        作者:Thomas Kugelstadt,德州仪器 (TI) 高级应用工程师


工业和医疗应用中机器和设备设计规定的愈加严格迫使我们必须要在几乎所有类型的电子系统或电路中实施电隔离。


尽管数字隔离器已经代替了模拟隔离器,从而简化了隔离接口的设计,但广大设计人员现在面临的挑战是日益增长的高系统性能需求。这里所说的高性能不仅仅指高数据速率和/或低功耗,而且还指高可靠性。一方面,在恶劣的工业环境中通过稳健的数据传输来满足这一需求。另一方面,特别是对隔离器而言,通过长使用寿命来解决这个问题。


最近在芯片设计和制造方面的技术进步已经成就了第二代数字电容隔离器,其高性能给低功耗和高可靠性定义了新的标准。本文将介绍其功能原理和内部结构,并讨论其电流消耗和预计寿命。

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