设为首页收藏本站
在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)

手机号码，快捷登录

手机号码，快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
创芯云服务  : 创芯大讲堂  | 创芯人才网 | 数字IC职业培训  EETOP诚邀线上IC培训讲师!
搜帖子
EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › 硬件设计论坛 › DataSheet&器件库 › IC DATASheet › Reliability and device scaling challenges
EETOP诚邀模拟IC相关培训讲师 创芯人才网--重磅上线啦！
返回列表 发新帖
查看: 2825|回复: 4

Reliability and device scaling challenges

[复制链接]
morriseaton
发表于 2009-3-30 18:17:28 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册，结交更多好友，享用更多功能，让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看，没有账号？注册

x
Reliability and device scaling challenges

17 Reliability and device scaling challenges of trapping charge flash memories.pdf

316.55 KB, 下载次数: 33 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元
回复

举报

cschiu
发表于 2010-6-30 09:46:02 | 显示全部楼层
樓主不知道是不是mxic的老戰友呀??
EETOP创芯人才网简历投递入口
回复 支持 反对

举报

alenanderson
发表于 2010-10-17 18:57:07 | 显示全部楼层
Thanks for sharing!
回复 支持 反对

举报

bambucha2007
发表于 2011-5-10 16:28:22 | 显示全部楼层
sharing thx, thx .
EETOP创芯人才网职位发布入口
回复 支持 反对

举报

tianhanw0612
发表于 2011-7-16 03:22:01 | 显示全部楼层
顶顶顶顶
EETOP创芯人才网简历投递入口
回复 支持 反对

举报

返回列表 发新帖
高级模式
B Color Image Link Quote Code Smilies
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /1 下一条

小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-18 15:31 , Processed in 0.018598 second(s), 8 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表