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标题: 闩锁问题 [打印本页]

作者: P_Color 时间: 2023-2-22 09:40
标题: 闩锁问题
想问问闩锁效应在版图上加环，隔离井避免闩锁的原理是撒

作者: gxc_cjgs 时间: 2023-2-22 09:49
https://bbs.eetop.cn/forum.php?m ... p;formhash=a34f70e4 原帖找不到了，这是个文档下载链接，这个是我觉得解释的最通俗易懂的了

作者: Yyy1223_1 时间: 2023-2-22 09:56
加上ring之后npn被隔断，gr接地，bjt处于截止状态，就不会导通

作者: u12u34 时间: 2023-2-22 10:46
https://blog.eetop.cn/blog-1781207-6951654.html

https://blog.eetop.cn/blog-1781207-6951700.html

这两篇日志讲的也很清楚了

作者: P_Color 时间: 2023-2-22 15:37

u12u34 发表于 2023-2-22 10:46
https://blog.eetop.cn/blog-1781207-6951654.html

https://blog.eetop.cn/blog-1781207-6951700.html

作者: xiaoqiansimc 时间: 2023-2-23 10:07
latch up主要是由于在传统的cmos工艺制作过程中，由于寄生的两个BJT相互作用，导致在电源和地之间形成了一条低阻抗通路！在版图上多加guardring的实质是增加通孔接触，减少衬底电阻和阱电阻，从而防止两个寄生的BJT导通来预防latch up。

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