EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)

标题: 陪您度过IC测试的不同阶段，参加活动享受非常礼遇！ [打印本页]

作者: sweet_singer 时间: 2016-3-3 15:51
标题: 陪您度过IC测试的不同阶段，参加活动享受非常礼遇！
随着集成电路外形尺寸缩小，几乎所有的指标都需要改善单位成本，并降低开关功率消耗，速度提高。集成纳米级别设备的IC也存在问题，主要是泄漏电流。因此，对于最终用户的速度和功率消耗增加非常明显，制造商面临更多尖锐挑战。泰克从不同应用角度提出了解决方案：

      • 射频IC测试
      – 射频IC的功率及频率参数测量
      – 射频IC的模拟及数字调制特性分析性

      • IC 直流特性测试
      – IC 直流特性测试
      – 集成电路I/O间的泄露电流测试
      – IC设计的I/V特性测试

      • 混合信号调制
      – 应对当代复杂混合信号IC测试
      – 对多路并行总线的逻辑分析
      – 快速解决多种标准协议解码触发

      • 功率IC 测试
      – 准确高效进行功率瞬态信号的测试评价
      – 提高电源测试精度方法汇总
      – 应对多种电源标准，能源之星，EN62301测试的挑战

活动页面
点击这里
活动时间	2016年3月1日-2016年3月31日
奖品规则
凡是在泰克活动页面成功注册表单的客户可以参与如下抽奖：
前100名抽取5名一等奖	面值100元京东电子充值卡
前300名抽取20名二等奖	T恤
前500名抽取20名三等奖	30元移动充值卡
人人有奖	150信元
所有奖项都需要在泰克活动页面注册成功获得抽奖资格。奖项由泰克抽出和发放，活动结束在论坛公布获奖名单。四等奖还需要跟帖回复，回复邮箱前两个字母和手机后三位，经过泰克和EETOP后台审核，然后获得信元。

一等奖

二等奖

三等奖：30元移动充值卡
四等奖

欢迎光临 EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网) (https://bbs.eetop.cn/)