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楼主: wrhwindboy

[求助] M0 系列MCU wafer 功能测试原理

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发表于 2018-6-19 06:15:50 | 显示全部楼层
回复 10# wrhwindboy

你提到的是wafer test 我的理解是probing test。 就是probing pin直接测试wafer
通常的测试机 probing card上面有512个pin
如果你的同测数是8个 那么你的每个片子也有64个测试pin
测试时间很贵,测试pin够用的情况下 肯定并行输入节省测试时间
 楼主| 发表于 2018-6-19 16:11:55 | 显示全部楼层
回复 11# lovelaner


   并行输入不是会占用很多引脚吗?这样同测得数量就少了。
发表于 2018-6-20 08:32:18 | 显示全部楼层
回复 12# wrhwindboy


   balance between test time and test pin.
我以前做的mass production 的MCU in ram test用的是并行方式输入数据
你根据你的实际情况 我这边的advan tester 有1024 个test pin
发表于 2018-6-20 09:22:15 | 显示全部楼层
本帖最后由 charlie_zhang 于 2018-6-20 09:25 编辑

回复 8# wrhwindboy


   1. 你这个芯片多少门电路,应该不大吧,所以良率应该还可以,应该没有专门的DFT?               2. 如果没有DFT,你只是想测试一下基本的外设逻辑功能,以及主要的memory?   3. 你内部没有专门的ROM程序来干这个事情?
   4. 所以你需要在SRAM中执行测试程序?
   5. 面临两个问题,一是如何将测试程序load到sram中;二是让M0在sram中执行程序?
 楼主| 发表于 2018-6-21 08:31:24 | 显示全部楼层
回复 14# charlie_zhang

1. 你这个芯片多少门电路,应该不大吧,所以良率应该还可以,应该没有专门的DFT?  -> 芯片的门数在10万以下,会做DFT设计和memory bist
             2. 如果没有DFT,你只是想测试一下基本的外设逻辑功能,以及主要的memory?  
-》主要还是测试一下GPIO功能和Analog模块 比如LDO的输出,OSC的频率并且trim,xtal功能等

3. 你内部没有专门的ROM程序来干这个事情?
-》芯片内部没有ROM,只有eFlash和sram

   4. 所以你需要在SRAM中执行测试程序?
-》想在sram里面执行程序,下载到eflash里面如果eflash的电压在trim的时候 LDO的输出被trim到一个低电压,eflash可能就不动了,
如果能解决这个 LDO trim 不会使供给 eflash的电压 变低 ,做成eflash不能正常工作这个问题,在eflash里面执行程序也可以。

   5. 面临两个问题,一是如何将测试程序load到sram中;二是让M0在sram中执行程序?
-》如果想在sram里面执行程序面临的问题是:
1:如何load 测试到sram,可以使用swd,但是swd一个是效率低,另一个是swd相对于系统时钟是异步的,如何解决这个异步引起的 test pattern的 vector 错位问题,比如仿真的 pattern 的第100个step,在实际芯片上跑的时候可能会是第98~102 个step,因为swd是异步的。
2,如何让M0在sram里面执行程序,这个是不是可以通过remap方式或者直接设定pc 值到sram地址就可以了?   
 楼主| 发表于 2018-6-21 08:44:38 | 显示全部楼层
回复 13# lovelaner
非常感谢您的回答,给我提供了不一样的思路。那如果采用您的方案,通过第三方的IP下载程序到sram。按我的理解那具体的步骤是不是这样?如果有不妥的地方请不吝赐教。
step1:设定芯片的工作模式 为sram program的测试模式,然后通过pin脚来programsram?


step2:芯片不掉电,重新设定芯片的工作模式为function测试模式,通过reset pin 脚复位,让芯片重新开始工作,
            这种function测试模式,系统时钟和reset都是选择从pin脚直接输入,这样就能保证测试向量的step,芯片实际跑的和我simulation的是严格match的(可能在信号变化的时候要mask 1步或2步,但是整体上来看两者是同步以及match。不会发生因为异步而是pattern match compare 出错)。


不知道这个理解对不对?
            
 楼主| 发表于 2018-6-21 08:45:19 | 显示全部楼层
测试。。。。
发表于 2021-7-24 11:14:37 | 显示全部楼层
楼主,最后的测试方案是什么?
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