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[求助] IR drop Signoff 要求

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发表于 2018-1-17 13:53:16 | 显示全部楼层 |阅读模式

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某IR drop Signoff要求:Static IR drop
3% for VDD + VSS (Flip chip)  为什么会更严?
5% for VDD + VSS(wire blond)
Dynamic IR drop
Around 5X in signoff constraint

为什么Flip chip的Signoff要求严格一点?
为什么Dynamic的要求是多达五倍,松这么多?
发表于 2024-3-29 11:48:28 | 显示全部楼层
请问楼主现在清楚了吗?能否帮忙解释一下,对这个问题也是同样的疑惑。谢谢~~~
发表于 2024-4-8 00:23:43 | 显示全部楼层
Wirebond封装是四周供电,理论上IR会更大,因此Signoff要求松一些,通常为5%
Flipchip为BUMP垂直供电,分布式供电,理论上IR会更小,因此要求更严格一些,通常为3%
至于Dynamic IR的要求为5倍,主要考虑的是瞬态转换过程,也就是decap的数量抑制di/dt的效应,瞬态能量能够被吸收,performance满足前端要求,万事大吉。因为强烈依赖于前端的Case,因此通常为15%~20%即可。
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