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[求助] Tessent shell flow

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发表于 2021-6-7 17:18:48 | 显示全部楼层 |阅读模式

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各位大佬,请教一个基础问题:
   小弟最新学习tessent shell user manual,想学习一下scan的流程。
  看到manual里面讲到,有两种做法:flat design和hierarchical design。
  文档里面明确说了,无论是哪种流程,都需要一个two-pass flow。

  第一个pass:主要是插入memory BIST和boudnary scan
  第二个才是插入scan。

  我的问题是,为啥非要先插入bist和boundary-scan?
  文档里有没有说明如何去bypass这两个玩意,反正意思就是非要做这一步,不太理解是什么愿意?

发表于 2021-6-8 15:11:43 | 显示全部楼层
大概是為了讓BIST電路也能進scan chain
另外, bypass也是可以的
发表于 2021-9-18 17:14:02 | 显示全部楼层
发表于 2021-12-1 17:38:54 | 显示全部楼层
不需要就不要这个啊,直接对std cell区域加scan chain
发表于 2021-12-24 09:34:40 | 显示全部楼层
因为tessent先在rtl阶段插入mbist和bscan,scan只能在综合后插入。当然你也可以在综合后插入mbist和bscan,但是相关电路是rtl,你还要综合,来回折腾综合,不累么?
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