在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 1550|回复: 0

[求助] 用JTAG配置IO pad测试问题求助

[复制链接]
发表于 2021-1-18 11:21:51 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x
背景:项目需要对IOpad的IIL/IIH进行测试,利用JTAG的IR和DR指令配置IO pad为input,通过仿真确认IO配置没有问题。产生pattern后上机测试,发现很多IO的IIH/IIL很高,为mA级别(应为nA级别)。通过CV同事帮助,用FPGA和板子复现测试状况,发现JTAG打进去的值没有出错,但是测电流就是会出现如上情况,怀疑JTAG的指令被覆盖掉。

请教:各位大神有没有遇到过这种情况啊,有什么可能的因素会导致这样么。



谢谢
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /1 下一条

×

小黑屋| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-3-19 18:53 , Processed in 0.014631 second(s), 7 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表