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[求助] 求助几个资料

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发表于 2020-10-27 13:23:33 | 显示全部楼层 |阅读模式
100资产
求助几个资料的资源
1.A. J. van de Goor, Testing Semiconductor Memories: Theory and Practice, John Wiley & Sons, Chichester, UK, 1991.
2.P. Mazumder and K. Chakraborty, Testing and Testable Design of High-Density Random-Access Memories, Frontiers in Electronic Testing, Kluwer Academic Publishers, Boston, June 1996,ISBN 0792397827.
3.P. Mazumder and K. Chakraborty, Testing and Testable Design of High-Density Random-Access Memories, Frontiers in Electronic Testing, Kluwer Academic Publishers, Boston, June 1996,ISBN 0792397827.

最佳答案

发表于 2020-10-27 13:23:34 | 显示全部楼层
我有第二本

Testing and Testable Design of High-Density Random-Access Memories by Pinaki Maz.pdf

10.16 MB, 下载次数: 13 , 下载积分: 资产 -4 信元, 下载支出 4 信元

 楼主| 发表于 2020-10-27 13:24:23 | 显示全部楼层
3错了,是这个:A. J. van de Goor, The Implementation of Pseudorandom Memory Tests on Commercial Memory
 楼主| 发表于 2020-10-27 13:26:28 | 显示全部楼层
3 是这个
A. J. van de Goor, The Implementation of Pseudorandom Memory Tests on Commercial Memory Testers, in Proceedings of the IEEE International Test Conference, 1997, pp. 226–235.
 楼主| 发表于 2020-10-29 17:40:29 | 显示全部楼层


好的谢谢额
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