scan中at-speed test采用launch-off-capture方法

RayCing

背景：at-speed测的是combinational logic的transition fault吧，采用launch-off-capture方法，请问：
1.transtion不就是相当于测上升时间和下降时间吗？看输出是否在一定时间内从0跳变到1或1跳变到0，但是在capture的时候，实际上在最后一个shift cycle的时候跳变就已经完成了，这时capture到的值只是一个稳定后的值，如何反映transtion这个过程呢？


2.最后一个shift cycle还是属于shift过程，同时也是launch过程，请问此处是继续采用低频还是transtion需要的高频？

tory60515

1、要采用launch off shift方式，首先你的design必须支持，并且scan_en需要在最后一个shift cycle后，在下一个fast capture clock之前变低，将电路变为capture模式。scan_en必须像clock tree一样去balance.

tory60515

2、采用launch off shift方式，最后一个launch clock与下一个caputre clock之间只有一个fast clock cycle，所以是可以发现transition问题的。
3、一般还是采用broadside方式

RayCing

tory60515 发表于 2020-8-6 13:28
2、采用launch off shift方式，最后一个launch clock与下一个caputre clock之间只有一个fast clock cycle， ...

2020年因为各种事耽搁，抱歉现在才回复您！非常感谢您的指点！现在明白了！

stevenlicd

学习了，2#3#的回答很好，再结合这个图，就更清晰了

RayCing

stevenlicd 发表于 2021-9-3 16:31
学习了，2#3#的回答很好，再结合这个图，就更清晰了

感谢回复