在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 1706|回复: 4

[求助] 请教ESD突然出现大批量不符合条件的问题

[复制链接]
发表于 2020-1-13 15:41:29 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x
设计没有动过,生产的芯片的ESD以前一直都没有问题,但是最近的某个批次出现大量不符合要求的ESD保护,平时测试2kV都没问题,出现这种大批量问题的芯片,几百伏就坏了。因为对芯片可靠性要求高,怕以后还会大量出现这种问题,就想知道该从哪个方面入手查找?
是从工艺厂和封装查找吗?
如果从这两个方面,哪些因素会影响ESD的性能啊?
请教大佬们帮忙,非常感谢!



发表于 2020-1-13 16:20:19 | 显示全部楼层
工艺有update么?有没有跟以前的不同?
 楼主| 发表于 2020-1-14 09:46:05 | 显示全部楼层


twfly 发表于 2020-1-13 16:20
工艺有update么?有没有跟以前的不同?


没有update啊
发表于 2020-1-16 12:13:50 | 显示全部楼层
IC设计与工艺制程没发生变化,而某些生产批次的IC ESD robutness下降,那就是生产过程的ESD/EOS防护水平较之前降低(也就是工艺制程ESD/EOS风险管控不到位)了。
IC器件遭受过ESD/EOS stress厚但未导致出现functional failure,但Latent failure(主要是介质膜层)的影响一定是有的,只是严重程度差异而已。


发表于 2020-4-3 00:52:37 | 显示全部楼层


解决没呢?能上个ESD图吗?
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /1 下一条

×

小黑屋| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-3-29 20:08 , Processed in 0.020006 second(s), 6 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表