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楼主: IC菜鸟无敌

[讨论] 弱弱的问一个很白痴的问题?DC工具也可以做DFT扫描链的插入?

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发表于 2020-4-21 15:25:48 | 显示全部楼层
:):):)
发表于 2020-4-28 11:30:39 | 显示全部楼层


jake 发表于 2019-12-17 11:13
For ATPG generation
Cadence: Encounter Test, now called Modus.
Synopsys: Tetramax


正解
发表于 2020-4-30 16:32:32 | 显示全部楼层


jake 发表于 2019-12-17 11:13
For ATPG generation
Cadence: Encounter Test, now called Modus.
Synopsys: Tetramax


麻烦多了解了解外面大公司是怎么做DFT的,不是会用几个工具就以为很懂。
发表于 2020-6-14 09:22:22 | 显示全部楼层
通常综合的时候所有的 flop 都成了 scan flop.  综合的软件当然要把所有的 flop 连到 scan chain 里。 有些设计故意不用 scan chain, 另当别论。 综合工具如果发现无法 stitch scan chain, 会报告 DFT error.  
综合工具没有足够物理信息,scan chain ordering 不是最优化。 在 place & route 工具里, 做 scan chain recordering 优化。
最后 ATPG pattern 生成, 则由 Modus, Tetramax 这样的工具生成。 这时的 scan chain 都已经定下来了, Modus, Tetramax 只是生成 pattern, 报告 test coverage, fault coverage.  
抱歉,很久没上,回复晚了。
发表于 2022-8-29 17:04:17 | 显示全部楼层


fftang 发表于 2020-4-30 16:32
麻烦多了解了解外面大公司是怎么做DFT的,不是会用几个工具就以为很懂。
...


你懂的话,麻烦分享下,不要在这里讲些毫无信息含量的话
发表于 2023-12-9 13:10:22 | 显示全部楼层
新手问一下,是安装DC工具就可以使用DFT Compiler了吗?
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