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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 测试简介，测试方法，及可测实性设计--希望加精 ...
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楼主: liana3237

测试简介，测试方法，及可测实性设计--希望加精

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xucongguo
发表于 2007-12-27 22:14:57 | 显示全部楼层
确实不错啊!
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xucongguo
发表于 2007-12-27 22:17:02 | 显示全部楼层
谢谢。。。。。。。。
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xucongguo
发表于 2007-12-27 22:30:42 | 显示全部楼层

EGKB

7X93        KJHKSDKFSJHF
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xucongguo
发表于 2007-12-27 22:32:33 | 显示全部楼层
thanks for your information................
thanks................
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lztogether
发表于 2007-12-29 12:44:54 | 显示全部楼层
想看看　　下一个
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qingru_tong
发表于 2007-12-29 22:37:23 | 显示全部楼层
xia xia lai kan kan
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ainibubian_920
发表于 2007-12-30 21:49:28 | 显示全部楼层
有这么多吗
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liana3237
 楼主| 发表于 2008-1-8 16:27:40 | 显示全部楼层
好东西，
大家顶啊。。。。
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ELF83
发表于 2008-1-10 15:20:42 | 显示全部楼层
顶一下
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william11
发表于 2008-1-15 02:44:01 | 显示全部楼层
谢谢，下下看
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