在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
12
返回列表 发新帖
楼主: shsoc

[讨论] 5nm design issue

[复制链接]
 楼主| 发表于 2019-5-21 10:50:27 | 显示全部楼层


yitengzeng 发表于 2019-5-21 09:20
because same layer have double pattern DRC that means layer metal made by different mask. But EUV on ...


so when EUV is involved, the need of double pattern will dispeared, right?

发表于 2019-5-21 16:26:51 | 显示全部楼层


shsoc 发表于 2019-5-21 10:50
so when EUV is involved, the need of double pattern will dispeared, right?


Maybe not all layer
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /3 下一条

小黑屋| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-4-23 21:15 , Processed in 0.017799 second(s), 7 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表