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查看: 1809|回复: 9

[求助] 功能测试pattern 替代Scan测试 ,如何统计功能测试的覆盖率

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发表于 2019-5-10 17:19:33 | 显示全部楼层 |阅读模式

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SoC插入Scan逻辑会增加面积,同时Scan测试需要测试费用,请教假如用功能测试pattern 替代Scan测试,应该如何统计在功能测试的芯片的Toggle覆盖率?这样的替代方案是否可行?




发表于 2019-5-11 21:34:17 | 显示全部楼层
使用Z01X
 楼主| 发表于 2019-5-13 13:39:22 | 显示全部楼层


Z01X 现在用的公司多吗?有相关的资料没?
发表于 2019-5-14 17:18:18 | 显示全部楼层
用仿真工具看下coverage? 这样的cover与真正的测试覆盖率还是大不同
发表于 2019-5-16 16:39:31 | 显示全部楼层
先釐清這些functional pattern真的是用來測scan mode下測不到的地方嗎?
如果不是,是否在design階段DRC沒有清乾淨而造成
如果是scan階段就沒有清乾淨這些東西而造成coverage不足而要用這些functional pattern補

這就大大的本末倒置了
发表于 2019-5-17 09:03:38 | 显示全部楼层


bounty5254 发表于 2019-5-16 16:39
先釐清這些functional pattern真的是用來測scan mode下測不到的地方嗎?
如果不是,是否在design階段DRC沒有 ...


有些为成本考虑, 有些为安全考虑, 有的芯片是不加SCANCHAIN的. 只能用function pattern去测试
发表于 2019-5-17 09:46:07 | 显示全部楼层


elone 发表于 2019-5-17 09:03
有些为成本考虑, 有些为安全考虑, 有的芯片是不加SCANCHAIN的. 只能用function pattern去测试
...


如果是這類考量下的測試 OK
因為實際上我看到的是蠻多R&D搞不清楚狀況
做DFT時DRC檢查不嚴謹導致我所提到的狀況
发表于 2019-5-17 09:51:58 | 显示全部楼层


bounty5254 发表于 2019-5-17 09:46
如果是這類考量下的測試 OK
因為實際上我看到的是蠻多R&D搞不清楚狀況
做DFT時DRC檢查不嚴謹導致我所提到 ...


如果是设计时就没考虑好DFT, 那再用Function Pattern去补那可能效果也不会好了
发表于 2019-5-17 11:21:17 | 显示全部楼层
本帖最后由 bounty5254 于 2019-5-17 11:23 编辑


elone 发表于 2019-5-17 09:51
如果是设计时就没考虑好DFT, 那再用Function Pattern去补那可能效果也不会好了
...


的確是

functional pattern無法確保fault propagation這件事
所以pattern打進去能不能傳到output觀察也是一回事

所以在產品前期的DRC 把關就很重要  跟design quality息息相關

发表于 2019-5-23 19:55:25 | 显示全部楼层
function pattern没有明显针对的失效类型,当然无法评估。
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