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查看: 1893|回复: 3

[求助] 有关运放开环增益的测量

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发表于 2019-1-17 15:44:30 | 显示全部楼层 |阅读模式

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在Allen第二版书中写到部分有关运算放大器的仿真和测量(p250,中文版),我阅读之后不是很理解其中提到的开环特性测量的方法,主要有一下2点疑惑,请各位帮忙解答:1)如果差分增益比较高,这种方法是如何测出开环相应曲线的呢?在低频部分,应该输入幅度多么小的信号才可以测出相应的增益值呢?
2)此时不需要考虑Vos的影响吗?

测试电路图

测试电路图
发表于 2019-1-18 15:17:26 | 显示全部楼层
AC仿真,不需要信号幅度的,已经归一化了。
理想情况,VOS是不存在的。
发表于 2019-1-19 13:47:45 | 显示全部楼层
kankan
 楼主| 发表于 2019-1-20 15:57:24 | 显示全部楼层
回复 2# demon0821
仿真的话,我可以理解。我想知道如果测试芯片的DC增益,如何测试呢?按照这个原理图的方法,可行吗?
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