车充高压测试烧毁芯片问题

silverpuma · 发表于 2018-7-19 10:33:13

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如图，正常测试，输入电源通过红线和地接在一起，负载仪直接接到VOUT+和VOUT-之间，Rsen是采样电阻，24V触碰上电正常；

现在客户为了测试方便，直接把输入电源的地和负载的地接到一起，同时接到VOUT-，24V触碰上电，每次触碰几次就把芯片给烧坏了，这个有可能是什么原因？？

2011smic · 发表于 2018-7-20 16:01:50

回复 1# silverpuma

QQ : 2770562374

peterlin2010 · 发表于 2018-7-29 21:44:09

如图，正常测试，输入电源通过红线和地接在一起，负载仪直接接到VOUT+和VOUT-之间，Rsen是采样电阻，24V触 ...
silverpuma 发表于 2018-7-19 10:33

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cs (current sense) 应该就没作用吧
测试烧毁


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[求助] 车充高压测试烧毁芯片问题