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查看: 4821|回复: 14

[求助] 标准单元库换工艺问题

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发表于 2018-4-23 17:10:41 | 显示全部楼层 |阅读模式

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请问,因为换工艺,所以我对每一个cell都压了面积,然后在利用NCX仿真提取的时候,电压变低了,面积压缩了,结果出来的时序变得更差了,请问造成这个情况的原因可能是什么呢?按道理来说,电压如果变低,负载不变的话,时序应该变好才对的,但我这个结果为什么会这样呢?
发表于 2018-4-23 21:30:41 | 显示全部楼层
回复 1# moyunming


   你先用ncx把原来的lib做一遍看看结果是不是源一样再换PVT条件
 楼主| 发表于 2018-4-23 22:48:10 | 显示全部楼层
回复 2# legend03u8z


   您好,我按照原来的条件,试了一遍,结果是对的,不过我同时用的是seed library和从seed library提取的.opt文件,提取出来的lib,和原先是一样的,我感觉流程应该是对的,然后我换用了另外一个seed library,对这个seed library里面的cell,我压了面积,PVT里面,我只是把电压从原来的1.98,变成了1.5,其他的都没变,感觉出来的cell,时序应该变好才对的,毕竟我电压减小了,时序是变快的,可PR出来的结果,时序变的好差,这个是为什么呢?
发表于 2018-4-24 09:18:16 | 显示全部楼层
回复 1# moyunming


   电压变低,时序变慢,功耗变低。时序不可能变快。
 楼主| 发表于 2018-4-24 16:43:33 | 显示全部楼层
回复 4# seu_huzw 为什么时序不会变好呢?因为电压变低了,原先电压比较高,需要1.9才可以翻转的,现在1.6就可以翻转了,时序不应该变快的吗?
发表于 2018-4-25 09:24:01 | 显示全部楼层
回复 5# moyunming


   电压变低,器件的电流就变小,单元的驱动能力就减弱,给负载电容充放电的时间就变长,即rise/fall_transition变大,cell_rise/fall变大。跟信号到达什么电压值发生翻转关系不大。
发表于 2018-4-25 11:38:01 | 显示全部楼层
你的时序变好是指setup 变好还是hold变好 或者都变好? 理论上将低电压,器件延迟会加大,导致setup 变差, hold会变好。
 楼主| 发表于 2018-4-25 15:02:53 | 显示全部楼层
回复 6# seu_huzw
但是电压低,MOS管很快就可以达到饱和,开始给电容充电的呢,这张图不就是说明电压低的话,mos管会更加快的达到饱和的吗? 789456.jpg
 楼主| 发表于 2018-4-25 15:05:49 | 显示全部楼层
回复 7# 教父


   我现在搞不明白,为啥电压变小,器件延迟会变大呢?电压变小的话,mos管不是会很快的达到饱和的吗? 789456.jpg
发表于 2018-4-25 18:28:45 | 显示全部楼层
回复 8# moyunming


   你需要好好理解一下直流分析与瞬态分析,另外也建议你好好推导下一个反相器的延时的公式。
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