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[求助] DFTC scan insertion 报告 clock gating cell 上有violation

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发表于 2018-2-24 11:07:40 | 显示全部楼层 |阅读模式

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DFT compiler 做scan insertion后,dft drc 报出来 clock gating 上有violation:
  Sequential Cell Report
  9 out of 84 sequential cells have violations
-----------------------------------------------------------------
SEQUENTIAL CELLS WITH VIOLATIONS
      *   9 cells are clock gating cells
         clk_gate_SPI_DATA_Reg_4_reg/latch
         clk_gate_SPI_DATA_Reg_3_reg/latch

对应的逻辑如下:
  SDFFRPQX1 SPI_CR_2_reg_7_ ( .D(PWDATA[7]), .SI(SPI_CR_2[6]),
        .SE(SCAN_ENABLE), .CK(net1324), .R(n134), .Q(SPI_CR_2[7]) );


  SNPS_CLOCK_GATE_HIGH_APB_SLAVE_3 clk_gate_SPI_CR_2_reg ( .CLK(PCLK), .EN(N84), .ENCLK(net1324), .TE(SCAN_ENABLE) );


看起来scan dff 的clock pin 上并没有加bypass mux,这是什么原因?
发表于 2018-9-5 16:31:12 | 显示全部楼层
回复 1# zhh124


   大神,遇到同样的问题,请问怎么解决的?
发表于 2018-9-6 00:57:30 | 显示全部楼层
interesting
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