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[资料] 【经典】Electrostatic Discharge, ESD 经典教程 PDF

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发表于 2017-8-21 08:21:29 | 显示全部楼层 |阅读模式

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【经典】Electrostatic Discharge, ESD 经典教程 PDF



静电放电(Electrostatic Discharge, ESD) 是造成大多数的电子元件或电子系统受到过度电性应力(Electrical Overstress EOS) 破坏的主要因素。

这种破坏会导致半导体元件以及电脑系统等,形成一种永久性的毁坏,因而影响集成电路(Integrated Circuits, ICs) 的电路功能,而使得电子产品工作不正常。


而静电放电破坏的产生,多是由于人为因素所形成,但又很难避免。电子元件或系统在制造、生产、组装、测试、存放、搬运等的过程中,静电会积累在人体、仪器、储放设备等之中,甚至在电子元件本身也会积累静电。

而人们在不知情的情况下,使这些物体相互接触,因而形了一放电路径,使得电子元件或系统遭到静电放电的肆虐。


如何才能避免静电放电的危害呢?除了加强工作场所对静电积累的控制之外,必须在电子产品中加入具有防患静电放电破坏的装置。

首先必需考量这额外装置的效能,如何处理才能达到有效防护的功用。而这装置应放在何处?以及在工业上的大量应用中,如何才是最省成本的设计方式?这些问题都应一一处理及考虑。


在防护装置的设计上,从加强集成电路本身对静电放电的耐受能力上着手,可以解决晶片包装后,组装、测试、存放、搬运等所遭遇到大多数静电放电的问题。

目前半导体集成电路以互补式金氧半导体(CMOS)技术为主,在本网路中即针对 CMOS 集成电路之静电放电防护技术作深入的介绍。




ESD中文经典教材.part1.rar (3 MB, 下载次数: 499 )


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【经典】Electrostatic Discharge, ESD 经典教程 PDF






发表于 2017-8-25 14:45:49 | 显示全部楼层
以前有人发过了,不过还是谢谢
发表于 2017-11-14 09:39:06 | 显示全部楼层
谢谢分享,下来看看
发表于 2017-11-14 09:51:33 | 显示全部楼层
感谢楼主分享,有时间好好阅读一下
发表于 2017-12-1 17:46:59 | 显示全部楼层
感谢楼主分享,有时间好好阅读一下
发表于 2017-12-3 01:22:06 | 显示全部楼层
ESD中文经典教材
发表于 2017-12-17 16:08:43 | 显示全部楼层
谢谢分享
发表于 2018-1-17 14:18:19 | 显示全部楼层
Thank you!
发表于 2018-2-24 19:57:47 | 显示全部楼层
謝謝分享
头像被屏蔽
发表于 2018-3-9 14:01:33 | 显示全部楼层
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