OTP高温测试，数据被奇怪写入

zfgu · 发表于 2017-5-17 14:41:22

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做高温测试，OTP中写入一些数据，高温测试后，发现一些地址的数据由0变为1，但是没有1变为0的问题，也就是一些地址意外的写入数据，不知是否为高温引起，谢谢。发生问题的芯片概率为2%左右

haimo · 发表于 2017-5-17 15:03:10

OTP只会0变1，不会1变0，并且只有一次写入机会。
芯片回来后，有没有走otp的测试流程，其中有一项是blankcheck，检查otp是否全部为0

zfgu · 发表于 2017-5-17 15:05:32

回复 2# haimo
写完了都会检测的，如不全为0，会报错

haimo · 发表于 2017-5-17 15:08:15

也就是说芯片流片回来，先进行了blankcheck，otp全部为0；
如果是这样，不要进行任何写数据操作，先将空白片进行高温测试，看是否会出现0变1的情况

sme-ic · 发表于 2017-5-17 15:38:53

不是意外写入，otp只能由1写0，这是otp的数据掉了，如果OTP IP没有问题，可能是写入时写入时间不够。

xiaoyisimonguo · 发表于 2017-5-18 23:56:22

回复 1# zfgu

blank OTP should all read "1", meaning no path to ground

s_ki1001 · 发表于 2017-5-26 12:08:35

回复 1# zfgu
跟工艺有一定关系，请问是哪家Foundary?我们以前也有类似问题。

风释怀 · 发表于 2017-5-27 09:14:43

不同温度下的lib时序不同吧，这样可能会造成写有问题。

14425324 · 发表于 2017-5-31 10:27:18

OTP按照工作原理分类有很多种，不知道你说的是哪一种，如果是初值全1的话，高温后0变成1就很正常了

zyp96 · 发表于 2017-8-10 14:51:22

回复 1# zfgu
OTP初始是0和1其实都有可能，只不过是多一个inv反相器的问题；不过呢，OTP一般都是浮栅设计的存储，写入的时候通常通过大电流和高压，把电子注入到该浮栅上，如果注入的电子比较少和原始的没有注入电子的区别不大的话，就比较难区分有没有写入数据了，所以如果出现数据丢失的问题，建议你还是写入数据的时候，保持写入的状态时间多一点，电压也可以适当提高一些看看！

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