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[求助] 扫描链插入时遇到的问题

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发表于 2015-7-22 09:30:15 | 显示全部楼层 |阅读模式

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我目前在学习做cortex-A5的DFT,因里面有memory,所以有包含了MBIST电路。电路经过综合后,在插入扫描链的时候,是否需要对MBIST_TEST(启动内部mbist电路测试的控制信号)做约束,即固定其值为0。之前考虑固定其值为0,是想的是在扫描链测试的时候不启动mbist电路测试。
   另外想请教下,对于插入扫描链时一般对扫描链的个数和深度的考量是什么?目前我设计的是12个,每个大概深度为955。这样插入扫描链的网表去通过ATPG生成测试pattern,大概需要3个小时,而用vcs仿真这些测试pattern大概需要6个小时。是否有必要加速呢?如何加速?
   感谢!
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