ESD failure

Jaaames · 发表于 2007-4-26 12:41:27

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想问一个ESD的问题. 有没有哪位碰到过ESD保护能通过4KV以上测试,但却FAIL在2KV到4KV之间. 用的是SCR,IEC spec.

semico_ljj · 发表于 2007-4-26 21:15:15

？意思，既然通过了测试怎么又fail了呢。

keero · 发表于 2007-4-27 09:00:59

民品貌似2K+就可以了。

zlxsmile · 发表于 2007-4-27 09:18:17

内部电路可能在2KV就死掉了

Jaaames · 发表于 2007-4-27 11:02:04

这个ESD在某个区间(2KV到4KV)中毁坏了,但能通过4KV以上的测试. 感觉是一种WINDOW的failure模式. 想知道可能的机理.

Jaaames · 发表于 2007-4-27 11:07:21

内部电路没有损坏. 从FA报告可以看出SCR的一个FINGER被击穿了,而且只集中在很小的一个区域.

Jaaames · 发表于 2007-4-27 11:12:51

内部电路没有损坏. 从FA报告可以看出SCR的一个FINGER被击穿了,而且只集中在很小的一个区域.

semico_ljj · 发表于 2007-4-27 14:13:20

不均匀导通（开启）引起的击穿？

jjshen · 发表于 2008-9-10 14:24:50

4KV pass, 2KV should be pass

micro-wu · 发表于 2008-9-10 22:54:37

原帖由 Jaaames 于 2007-4-27 11:12 发表

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内部电路没有损坏. 从FA报告可以看出SCR的一个FINGER被击穿了,而且只集中在很小的一个区域.

很小的一个区域，应该是触发SCR的那个被击穿的结吧

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