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查看: 3945|回复: 7

[原创] chain test and scan test ,serial and parallel

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发表于 2012-10-10 15:38:13 | 显示全部楼层 |阅读模式

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谁能告诉我chain test 和scan test,哪个测试的是shift过程,哪个是capture过程?


还有他们跟serial and parallel的区别?
发表于 2018-1-20 22:43:02 | 显示全部楼层
回复 1# 杀猪的日子


    thanks for sharing
发表于 2018-1-22 09:33:31 | 显示全部楼层
chain test测试的是shift过程,普通的scan test测试的是shift过程和capture过程
serial 和 parallel是两种仿真的模式,在测试机上都是serial模式,在每条Pattern中,serial是通过和scanchain等长的scan clock周期的移位对scan register进行赋值,仿真时间长;parallel模式则是通过force的形式对scan register进行赋值,最少只需要一个scan clock周期,仿真时间能够大大缩短
发表于 2018-4-11 06:46:08 | 显示全部楼层
回复 3# qianxun_qiu


   good stuff
发表于 2018-4-17 14:12:22 | 显示全部楼层
发表于 2018-11-7 20:11:23 | 显示全部楼层
good  thx
发表于 2018-11-13 14:10:24 | 显示全部楼层
chain test是scan test的一部分  chain test是为了检查扫描链上的扫描单元是否存在故障,一般有0011,0101等形式组合的专门的chain test向量,由工具可以生成。
发表于 2019-8-2 08:46:37 | 显示全部楼层
thanks for sharing
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