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楼主: szyacj

[求助] ESD测试的时候可能触发Latch-up吗?

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发表于 2012-9-16 17:07:22 | 显示全部楼层
好像latch up是坏一片,esd一般坏的是管子
发表于 2012-9-19 13:43:03 | 显示全部楼层
应该有可能。ESD时流大电流,有可能触发周围寄生的scr结构,结果导致电流走非预料的路径产生失效。当然你也可以定义这种情况不叫latchup。
发表于 2012-9-20 04:31:04 | 显示全部楼层
有可能
发表于 2012-10-17 17:01:46 | 显示全部楼层
esd 测试不带电,不会有latch-up 问题,如果esd器件遇到所谓的“latch“通路,电荷很容易泄放,hold 电压低,这是好事情。
 楼主| 发表于 2012-10-18 09:18:40 | 显示全部楼层
但是瞬间大量电荷泄放不会造成不可逆的损坏?
发表于 2013-2-1 23:50:34 | 显示全部楼层
严格来讲,在单独ESD测试时不会引起latch up,因为ESD测试时,不管是什么模式,I/O或者Power/Ground Cell不是同时上电的,latch-up发生的基本条件之一是在Power恒定上电,Ground pin恒定接地状态才有发生。因此在测试ESD时这个条件不满足。但是如果在使用当中,Power/Ground都有满足条件,ESD发生可能会导致寄生的pnpn结构而引发latch-up。
发表于 2013-2-2 18:29:55 | 显示全部楼层
有点看不清问题,到底是不是问恒定上电情况下esd产生的问题
发表于 2013-3-6 23:37:18 | 显示全部楼层




   我也觉得是这样,解释得很清楚!
 楼主| 发表于 2013-3-9 22:50:53 | 显示全部楼层
谢谢回答!!!!
发表于 2013-3-13 11:31:12 | 显示全部楼层
好东西, 谢谢了啊
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