关于ATPG仿真

Syn2012 · 发表于 2012-8-25 22:14:06

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大家好！

问一个ATPG仿真问题。

现在我使用Synopsys的tetramax生成pattern（有parallel的pattern，也有serial的pattern）。并使用vcs对生成的pattern进行仿真。发现仿真结果如下：

使用parallel的pattern进行仿真，仿真结果如下（1）所示：
Error during scan pattern 1380(detected during load of pattern 1381) T = 2474600 ns

1380  12 1648 (exp=1, got =0)  // pin = Q, scan cell = 1648;
1380  12 1656 (exp =0, got =1) // pin = Q, scan cell = 1656;

使用serial pattern进行仿真，仿真结果如下（2）所示：

Error during scan pattern 1380(detected during load of pattern 1381)

1648  (exp=1, got =0)  // pin = SO1_PAD， scancell= 1648；
1648  (exp=1, got =0)  // pin = SO2_PAD， scancell= 1648；

1656  (exp=1, got =0)  // pin = SO1_PAD， scancell= 1656；
1656  (exp=1, got =0)  // pin = SO2_PAD， scancell= 1656；

注：我的pattern中只有这两个cell仿真报错。其他cell均仿真OK。

请问仅仅只出现这里的两个cell的error是由什么引起的，看这个error报告，说是在scan load的过程中发生的，请问在scan load过程它是由什么引起的呢？根据我的理解，在scan load时，主要发生的是shift操作，如果说这个时候load都有错的话，那么应该会是整条链上都会报错。可以这么理解吗？

因为这里应该是不会有什么时序上的信息（因为我现在进行的是notiming check在VCS中设置了这个options），完全是仿真功能的。那么这个时候这个error会是由什么引起的呢？

还有为什么parallel的pattern仿真与serial的pattern仿真出错的error不一样的。比如说在serial中第1656个cell的error错误为exp=1,got=0，而在parallel的1656个cell的error为exp=0，got=1？

这是什么现象以及怎么去debug这个error？

fu2006 · 发表于 2012-8-27 23:10:43

无图无真相！光这个能说明什么呢

eeares · 发表于 2012-8-28 10:47:52

dump waveform才知道是为什么。你可以做下ATPG good simulation对比下ATPG/simulation ENV是否相同

Syn2012 · 发表于 2012-8-28 21:23:01

首先谢谢几位的回复，主要是我没有对这个pattern进行dunp waveform，当时采用的是serial的pattern仿真，觉得需要等这么久才dump waveform，所以就没有去dump波形。所以可能是我描述不当。不过这个问题我解决了，原因是在ATPG模式下，有几个寄存器的时钟的结构大概是这样的，输入到这几个寄存器的时钟的最后一级MUX不是ATPG的Mux（但是输入到这个MUX的两个选择时钟都是测试时钟进行MUX输出的），它是受一个中间信号控制的，所以导致连到这个寄存器上的时钟可能在ATPG模式下，会切来切去，影响到了scan out的数值。
现在我把连到这几个寄存器的时钟的最后一级改为ATPG的mux，可以解决上面的问题。