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[资料] JSSC paper about HCI reliability for circuit design

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发表于 2011-12-23 16:32:19 | 显示全部楼层 |阅读模式

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The attachment is JSSC paper on March, 1994.
This paper talk about CMOS device's  life time,
and provide some methods for designer to design their circuits more robust.
Of course foundries also provide us device reliability calculation on the website, such as HCI, GOI...ect.
But this paper give us simple methods to estimate the life time when designing.
For example, some people design their product's lifetime > 5 years.

[1994-03] Hot-Carrier-Reliability Design Guidelines for CMOS Logic Circuits.pdf

934.12 KB, 下载次数: 79 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

发表于 2018-12-30 22:45:48 | 显示全部楼层
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