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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › design for test
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[资料] design for test

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gangersun
发表于 2011-8-24 11:16:23 | 显示全部楼层 |阅读模式

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上海交大微电子学院的design for test教程。
DFT

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gangersun
 楼主| 发表于 2011-8-24 11:17:23 | 显示全部楼层
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design for test(上海交大).pdf

558.94 KB, 下载次数: 162 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元
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web_miner
发表于 2011-8-24 17:25:58 | 显示全部楼层
谢谢楼主！
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etopyes8
发表于 2011-8-24 17:29:15 | 显示全部楼层
xiexeixei
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rainlym
发表于 2011-9-1 12:03:30 | 显示全部楼层
Thank you very much.
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formyideal
发表于 2011-9-2 13:44:48 | 显示全部楼层
really appreciate
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nklc2009
发表于 2011-9-2 14:30:36 | 显示全部楼层
谢谢楼主
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uso23238404
发表于 2012-6-6 17:06:11 | 显示全部楼层
谢谢楼主！
谢谢楼主！
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penghui
发表于 2013-3-23 22:45:26 | 显示全部楼层
准备学习！谢谢了！
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1939
发表于 2013-3-24 23:16:45 | 显示全部楼层
不错的资料，谢谢啦。
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