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[资料] IDDQ测试技术及其实现方法

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发表于 2011-8-19 11:32:56 | 显示全部楼层 |阅读模式

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IDDQ测试技术及其实现方法

IDDQ测试技术及其实现方法.pdf

213.58 KB, 下载次数: 470 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

发表于 2011-8-19 14:02:06 | 显示全部楼层
IDDQ (即静态电源电流) 测试是近几年来国外比较流行的CMOS 集成电路测试
技术。IDDQ 测试能够检测出传统的固定值故障电压测试(即SAF 功能测试) 所无法检测
的CMOS 集成电路内部的缺陷(如氧化层短路, 穿通等) , 所以, 能够明显提高CMOS 集成
电路的使用可靠性。本文叙述了IDDQ 测试的基本原理和IDDQ 测试在集成电路测试系统上
的实现方法及测试实例。
发表于 2011-8-20 08:18:06 | 显示全部楼层
ddddddddddddddd
发表于 2014-7-17 10:26:33 | 显示全部楼层
发表于 2016-7-19 00:51:09 | 显示全部楼层
IDDQ测试技术及其实现方法.pdf (213.58 KB)
发表于 2017-6-10 10:35:54 | 显示全部楼层
have a look,thanks!
发表于 2020-5-8 10:59:12 | 显示全部楼层
thanks very much
发表于 2020-8-16 15:33:30 | 显示全部楼层
IDDQ的基本概念可以从此资料中学习
发表于 2021-9-9 16:18:14 | 显示全部楼层
感谢分享。
发表于 2022-1-15 14:32:23 | 显示全部楼层
谢谢分享
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