清华大学芯片测试讲义

yohuang · 发表于 2010-6-25 11:54:05

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Outline:
1. Fundamentals on Testing and Design for Testability
2. Combinational Test Generation
3. Fault Simulation
4. Sequential Test Generation
5. Memory Testing
6. Testability Measure
7. Design for Testability
8. Boundary Scan
9. Built-In Self-Test
10. IDDQ Testing

mcchan · 发表于 2010-6-25 14:03:54

模拟到底 · 发表于 2010-6-25 16:03:34

谢楼主，看看去。

apteye · 发表于 2010-6-26 02:10:49

thanks

quee · 发表于 2010-9-14 16:46:49

wow.上不起清华，看看他的课件。。

jefffree · 发表于 2011-2-10 14:14:25

终于找到个可下载的了

linshengliu · 发表于 2011-2-14 20:33:05

看那看，看完再说

everan · 发表于 2011-2-17 23:17:42

xiexiefenxiang

bailiang · 发表于 2011-2-18 01:09:13

谢谢楼主分享，正需要这个呢！

xqjtop · 发表于 2011-2-20 11:55:50

看看了！！

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