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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 边界扫描(Boundary scan )测试原理
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楼主: iamkenhuang

边界扫描(Boundary scan )测试原理

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otogyg
发表于 2012-8-7 10:14:26 | 显示全部楼层
thank you very much！
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owwo504
发表于 2012-8-8 23:54:31 | 显示全部楼层
非常感谢，不错啊，哈哈
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enter923
发表于 2012-8-9 13:51:12 | 显示全部楼层
学习一下
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lvjun0728
发表于 2012-8-11 10:53:28 | 显示全部楼层
下载收藏。。
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quee
发表于 2012-11-14 13:03:39 | 显示全部楼层
谢谢分享，顶
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asic_designer
发表于 2012-11-28 09:51:44 | 显示全部楼层
thanks    !!!
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asic_designer
发表于 2012-11-28 09:52:28 | 显示全部楼层
Thanks! 好东西看看
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samwone
发表于 2012-12-11 10:24:40 | 显示全部楼层
感謝分享，剛好有需要
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penghui
发表于 2013-3-23 22:29:15 | 显示全部楼层
正在学习ＢＳＤ，谢谢分享！
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sunseu
发表于 2013-7-15 18:24:00 | 显示全部楼层
ding    !!!!
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