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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 边界扫描(Boundary scan )测试原理
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楼主: iamkenhuang

边界扫描(Boundary scan )测试原理

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Heller_sun
发表于 2018-9-26 17:45:37 | 显示全部楼层
感谢分享，谢谢
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hnulht789
发表于 2018-10-16 12:20:15 | 显示全部楼层
thanks very much
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lling65
发表于 2019-4-18 17:12:51 | 显示全部楼层
大力支持好东西
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nokia70
发表于 2019-4-24 15:12:56 | 显示全部楼层
Thanks
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caoshujia
发表于 2019-4-28 16:10:24 | 显示全部楼层
谢谢分享
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kobefly225
发表于 2020-5-7 08:48:28 | 显示全部楼层
kankan
最近在看相关的东西 谢谢分享
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zhangrenzhe001
发表于 2020-8-10 17:49:19 | 显示全部楼层
非常感谢
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clslhy
发表于 2022-1-15 14:54:59 | 显示全部楼层
谢谢分享
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yw8381
发表于 2022-2-18 15:13:55 | 显示全部楼层
感谢分享
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发表于 2022-2-21 13:23:14 | 显示全部楼层
this is professional precious datas !!! thanks for you sharing !!!  excellent !!!
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