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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 边界扫描(Boundary scan )测试原理
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边界扫描(Boundary scan )测试原理

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iamkenhuang
发表于 2009-10-28 12:32:16 | 显示全部楼层 |阅读模式

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边界扫描(Boundary scan )测试原理
测试

Boundary scan.doc

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jackchang611
发表于 2009-10-28 14:14:19 | 显示全部楼层
看看 下下来了
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xibuol
发表于 2009-10-28 15:36:59 | 显示全部楼层
收下了

谢谢
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huaashan
发表于 2009-10-31 22:49:36 | 显示全部楼层
大力支持好东西
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yuanyepeng
发表于 2009-10-31 23:36:34 | 显示全部楼层
好东西
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fancyhana
发表于 2009-11-9 22:14:10 | 显示全部楼层
thank U !!
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zhang209a
发表于 2009-11-10 23:56:17 | 显示全部楼层
ding  ~Q!!!!!!!!!!!!!!!!
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mingrenyc
发表于 2009-11-11 11:19:55 | 显示全部楼层
大力支持好东西
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citydremer
发表于 2009-12-2 23:30:03 | 显示全部楼层
看看这个怎么样
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xlove
发表于 2009-12-3 10:16:37 | 显示全部楼层
xie xie.............
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