ASIC可测试性设计技术-----中文资料

daiwei88 · 发表于 2008-11-25 16:30:48

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1引言

2DFT的基本概念

2.1Ad Hoc 技术

2.2结构化设计技术

2.2.1扫描技术

2.2.2内建自测试技术

3基于ATPG的扫描测试

3.1扫描测试的基本原理

3.2扫描测试的主要阶段

3.3扫描测试的基本时序

3.4扫描设计的注意事项

4DCXP(Design Compiler expert plus)的使用方法和基本命令

4.1建立设计环境

4.2未映射设计的DFT流程

4.2.1概述

4.2.2综合设计

4.2.3构造扫描链

4.2.4生成测试向量

4.3已映射设计的DFT流程

4.3.1概述

4.3.2两个流程的相同点和不同点

4.4DFT实例

5常见问题的解决方法

5.1基本问题

5.1.1冗余逻辑

5.1.2门控时钟

5.1.3时钟发生器

5.1.4异步复位的处理

5.2高级问题

5.2.1移位寄存器

5.2.2总线冲突和总线漂移

5.2.3组合反馈环

5.2.4latch

5.2.1RAM和Unkown cell

6边界扫描电路设计

6.1边界扫描简介

6.2边界扫描电路硬件描述

6.3TAP控制器及指令集

6.4BSD的基本步骤

6.4.1Edit Code

6.4.2BSD Configure

6.4.3BSD Synthesize

6.4.4BSDL and Vector Generation

6.4.5BSD Script Example

7DCXP和Mentor FastScan结合使用方法的介绍

7.1Mentor FastScan简要介绍

7.2DCXP和Mentor FastScan结合使用

daiwei88 · 发表于 2008-11-25 17:26:41

自己顶一下

xuexi123 · 发表于 2008-11-25 17:48:01

xue xi xuexi

大卫 · 发表于 2008-11-26 11:30:39

不错的资料，顶一下

flyablestone · 发表于 2008-11-26 14:05:17

帮你顶一下！

amin2008 · 发表于 2008-12-2 00:17:26

这个要看看谢楼主

niulinux · 发表于 2008-12-16 20:57:27

这个东西还是不错。

downloadrob · 发表于 2008-12-17 09:12:48

好东西

jp-36 · 发表于 2009-1-14 19:47:00

很好的资料
感谢分享

zheng98 · 发表于 2009-1-15 11:26:09

顶一下阿

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