IC测试原理解析

galinyan · 发表于 2008-8-30 17:20:54

您需要登录才可以下载或查看，没有账号？注册

x

本系列一共四章，第一章节主要讨论芯片开发和生产过程中的IC 测试基本原理，内容
覆盖了基本的测试原理，影响测试决策的基本因素以及IC 测试中的常用术语；第二章节将
讨论怎么把这些原理应用到存储器和逻辑芯片的测试上；接下来的第三章将介绍混合信号芯
片的测试，第四章会介绍射频/无线芯片的测试。

对于刚接触IC测试的朋友会很有帮助!

galinyan · 发表于 2008-8-30 17:23:12

第一次上传资料。

希望对大家有用！

lent · 发表于 2008-8-31 05:51:42

提示: 作者被禁止或删除内容自动屏蔽

huatiantian · 发表于 2008-8-31 22:28:09

very good very powerful

joooohn · 发表于 2008-9-3 10:02:12

谢谢楼主分享

galinyan · 发表于 2008-9-27 08:45:27

没事顶一下！

cstone123 · 发表于 2008-9-27 09:03:28

i don't know about this,so i collect it .

cstone123 · 发表于 2008-9-27 09:05:24

Thank you ,Sir

bicyclejoy · 发表于 2008-9-27 11:22:19

谢谢分享啊！

tx_hust@163.com · 发表于 2008-9-27 14:14:48

好东西，谢谢

lent lent 当前离线积分 15 头像被屏蔽	发表于 2008-8-31 05:51:42 \| 显示全部楼层提示: 作者被禁止或删除内容自动屏蔽
lent lent 当前离线积分 15 头像被屏蔽
	回复支持反对举报

站长推荐 /3