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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › IC 测试详细完整的教程
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楼主: zzss1111

IC 测试详细完整的教程

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leo_huang
发表于 2008-9-20 22:49:57 | 显示全部楼层

要得到必须有付出

要得到必须有付出，感谢分享
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fengniu
发表于 2008-9-23 13:38:10 | 显示全部楼层

资料不错

很有价值啊，多谢
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sycall
发表于 2008-9-23 17:15:20 | 显示全部楼层
good！
thanks!
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wuzuoyu132
发表于 2008-9-28 10:08:52 | 显示全部楼层
好资料 学习下
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zhouyxqh
发表于 2008-9-28 21:38:13 | 显示全部楼层
谢谢~~~~~~~
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xgq
发表于 2008-9-30 16:41:06 | 显示全部楼层
thanks
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mcsmth
发表于 2008-10-1 17:57:55 | 显示全部楼层
先看看再说
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wangshangdzkd
发表于 2008-10-2 16:36:03 | 显示全部楼层
谢谢楼主
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newlaptop
发表于 2008-10-6 15:14:49 | 显示全部楼层
真的很不错， 谢谢了
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belgium
发表于 2008-10-6 22:39:14 | 显示全部楼层
Test is not focused on complete testing flow..
its key is test cost.
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