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基于ATE的IC测试原理 方法及故障分析

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发表于 2008-4-26 12:50:45 | 显示全部楼层 |阅读模式

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基于ATE的IC测试原理 方法及故障分析

基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析.pdf

392.22 KB, 下载次数: 849 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

发表于 2008-4-27 13:32:44 | 显示全部楼层
it can be helpful, thanks
发表于 2008-4-29 12:47:00 | 显示全部楼层
i love it
发表于 2008-5-5 22:26:06 | 显示全部楼层
thanks for your information..........................
thanks..........................................................
发表于 2008-5-7 21:45:54 | 显示全部楼层
thanks!
发表于 2008-5-7 21:45:57 | 显示全部楼层
thanks!
发表于 2008-5-7 21:48:16 | 显示全部楼层
thanks!
发表于 2008-5-9 09:36:42 | 显示全部楼层
大力支持好东西
发表于 2008-5-9 09:44:36 | 显示全部楼层
这方面的东东很少.谢谢楼主哦.
发表于 2008-5-13 18:14:43 | 显示全部楼层
semiconductor.
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