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查看: 6541|回复: 12

[求助] 关于tmax add_atpg_constraints的疑问

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发表于 2018-1-26 16:40:25 | 显示全部楼层 |阅读模式

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新手。在使用tmax add_atpg_constraints命令时,将某个信号约束到0,
用report_atpg_constraints可以report出来,
但是把生出来的pattern仿真的时候发现被约束的信号根本没有约束住。
我看user guid中介绍说“This command defines constraints that must be satisfied during ATPG pattern generation”,
不知道是怎么回事觉得很疑惑,求大神指教!!非常感谢!!!
发表于 2018-1-30 15:57:50 | 显示全部楼层
改stil,在test_setup的时候加cycle force你需要的值,然后在load_unload的时候把值也保持住就好了,然后重新write_testbench就好了
发表于 2018-1-30 15:59:50 | 显示全部楼层
改stil,在test_setup的时候垫cycle把你想要的值force住,然后在load_unload的时候把值改为你需要的值,然后重新write_testbench,如果还不行,就在新生成的tb中加initial模块force值
 楼主| 发表于 2018-1-31 10:29:28 | 显示全部楼层
回复 2# kevin_dong
现在情况是这样:在做atpg的时候才发现原来的dft设计有问题,需要使得两条扫描链上的两个scan cell不能同时为1,否则其他链会受影响。
本想着使用add_atpg_primitives和add_atpg_constraints进行约束,在user guide中也有看到过类似的实例,
但是将生出来的pattern进行仿真,发现这两个scan cell并没有被约束住。
返回看tmax生成的log,确实在run atpg的时候有报过M179的warning,说“pattern rejected due to constraint violation”,


按照我的理解:用add_atpg_constraints是约束工具在atpg的过程中生出来的pattern必须要满足约束,
而报出来的M179的warning说明确实也有pattern因为不满足约束而被丢弃。
但是生出来的pattern套进去仿真发现约束还是没有被满足,觉得很疑惑。不知道是不是我的理解哪里有问题。

求大神赐教!!谢谢!!
发表于 2018-1-31 11:44:31 | 显示全部楼层
回复 4# yutou95


  你是想force chain上的cell 让其一直为一个固定值? 要是这样的话,那shift进去的值不都一直是0了么?那怎么测?
 楼主| 发表于 2018-1-31 15:08:33 | 显示全部楼层
回复 5# kevin_dong
我想限定它两条链上的某个位置不能同时为1,可以不是固定值。
发表于 2018-1-31 15:18:40 | 显示全部楼层
回复 6# yutou95


    没这么做过。。。小弟也无能为力了~ 感觉有机会的话重串吧~
发表于 2018-2-20 20:12:24 | 显示全部楼层
add_atpg_constraints 最好同时设在FF/Q & FF/D
在capture phase 敲了 clock / reset 之后, 其值是可能变化的

可试试看以下组合,
1. add_atpg_primitives AND
2. add_cell_constraints 确保 shift 为想要的值
3. add_atpg_constraints
 楼主| 发表于 2018-2-22 14:08:45 | 显示全部楼层
回复 8# DFTer

这些指令都有尝试过,但是都没有达到预期的效果。

后来在仿真的时候发现,在用了add_atpg_constraints/add_cell_constraints之后,在测该scan cell的时候,capture的过程是满足约束的,但是在shift过程约束无法满足。
发表于 2019-10-21 13:33:33 | 显示全部楼层


DFTer 发表于 2018-2-20 20:12
add_atpg_constraints 最好同时设在FF/Q & FF/D
在capture phase 敲了 clock / reset 之后, 其值是可能变化 ...


跟您请教一下,关于capture phase 敲了一下reset,我用tmax产生的.v文件或者叫testbench 中总是遇到 capture_p_rst event,在pattern 后仿中是可以过的,但是ATE测试回来却发现在敲过reset之后的一整个pattern(pattern based)都会挂掉(随机挂,没有规律),我想请问一下capture cycle中敲了一下reset工具是想测什么,pattern产生了怎样的行为,为什么工具反馈的atpg计算结果与实际芯片的计算结果会有差异。
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