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[原创] 资料推荐:ESD Testing: From Components to Systems

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发表于 2017-3-12 11:21:56 | 显示全部楼层 |阅读模式

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ESD Testing: From Components to Systems --- ESD测试:从组件到系统
随着半导体技术的发展和半导体业务的全球多样化,用于静电放电(ESD)和电过载(EOS)的半导体器件到系统的测试已经变得日益重要。

《ESD测试:从组件到系统》为读者,在新的测试,测试模型和用于ESD,EOS和闭锁的半导体元件表征技术方面进行了更新。

本书的主要特色:

提供对人体模型(HBM),机器模型(MM),充电设备模型(CDM),充电板模型(CBM),电缆放电事件(CDE),人类金属模型(HMM)等ESD模型和规格的理解和了解。 ,包括IEC 61000-4-2和IEC 61000-4-5。
讨论新的测试方法,如传输线脉冲(TLP),非常快的传输线脉冲(VF-TLP)和未来到超快速TLP(UF-TLP)的长脉冲TLP方法。
描述了芯片和系统级评估的常规测试和新测试技术。
解决EOS测试,电磁兼容性(EMC)扫描,电流重建方法。
讨论了用于评估半导体技术到产品测试的闭锁特性和测试方法。
《ESD测试:从组件到系统》是作者的静电放电(ESD)保护系列丛书的一部分;本书将是专业半导体芯片和系统级ESD和EOS测试工程师的无价之宝。半导体器件和工艺开发,电路设计人员,质量,可靠性和故障分析工程师也将发现它的一个重要参考。此外,它的学术处理将吸引对半导体工艺,器件物理,半导体测试和实验工作感兴趣的高级本科生和研究生。


资料下载地址:http://www.cloudioe.com/resources_details.aspx?id=6644
发表于 2017-3-12 18:20:26 | 显示全部楼层
nali yao feiyong
发表于 2017-5-12 20:25:22 | 显示全部楼层
????
发表于 2017-11-26 20:59:23 | 显示全部楼层
谢谢谢谢谢谢谢谢
发表于 2018-5-6 15:52:23 | 显示全部楼层
good book
发表于 2018-8-20 22:43:56 | 显示全部楼层
多谢分享
发表于 2018-8-27 09:30:36 | 显示全部楼层
請樓主幫忙提供載點
謝謝~!!
发表于 2020-1-30 15:33:30 | 显示全部楼层
看看
发表于 2020-10-10 15:14:00 | 显示全部楼层
楼主好人,感谢分享
发表于 2022-1-26 15:17:20 | 显示全部楼层
需要ESD Testing: From Components to Systems
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