电子产品制造过程中常见的IC ESD损坏案例

copper_hou · 发表于 2016-6-16 19:54:49

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本帖最后由 copper_hou 于 2016-6-16 19:56 编辑

一般被ESD击穿的IC呈现低阻，更为严重的ESD击穿，则会造成开路。
typical electronic failures caused by ESD-CHN.jpg

harvey_qq · 发表于 2016-6-28 16:10:48

good, thanks

copper_hou · 发表于 2016-6-29 08:17:02

回复 1# copper_hou

当今的IC发展水平，使得ESD失效越发增多。普通一个晶体管，在你眼前上演从功能完好，到被ESD击穿。
One corner of ESD Seminar(6.25.Shenzhen).jpg

hfwxgl · 发表于 2016-9-1 08:26:01

谢谢，请继续！！

liriver03 · 发表于 2016-10-22 16:15:50

继续，期待

kldeng1344 · 发表于 2016-10-23 17:48:17

谢谢，请继续！！

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