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[其它] IC latch up

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发表于 2012-9-11 12:38:43 | 显示全部楼层 |阅读模式

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This specification covers the I-test and the overvoltage latch-up testing of integrated circuits.

The purpose of this specification is to establish a method for determining IC latch-up characteristics and to

define latch-up failure criteria. Latch-up characteristics are extremely important in determining product

reliability and minimizing No Trouble Found (NTF) and Electrical Overstress (EOS) failures due to

latch-up. This test method is applicable to NMOS, CMOS, bipolar, and all variations and combinations of


these technologies.

JESD78C.pdf

188.47 KB, 下载次数: 167 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

发表于 2012-9-11 15:27:30 | 显示全部楼层
gooooooooooooooooooooooooooood
发表于 2012-9-11 22:25:35 | 显示全部楼层
谢谢楼主,收藏了,不错
发表于 2013-3-12 11:21:00 | 显示全部楼层
发表于 2016-6-26 13:36:05 | 显示全部楼层
THANK YOU
发表于 2016-7-26 12:50:25 | 显示全部楼层
good!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!
发表于 2016-9-4 21:05:01 | 显示全部楼层
SO COOL
发表于 2016-9-9 18:11:08 | 显示全部楼层
看看啥资料!!
发表于 2016-10-29 12:50:40 | 显示全部楼层
谢谢分享
发表于 2016-11-2 14:38:43 | 显示全部楼层
下载了看看......
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