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[资料] Advanced Test Methods for SRAMs

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发表于 2011-6-22 20:51:50 | 显示全部楼层 |阅读模式

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Effective Solutions for Dynamic Fault
Detection in Nanoscaled Technologies

ISBN 978-1-4419-0937-4 e-ISBN 978-1-4419-0938-1
DOI 10.1007/978-1-4419-0938-1
Springer New York Dordrecht Heidelberg London
Library of Congress Control Number: 2009935341
© Springer Science+Business Media, LLC 2010

2009 Advanced Test Methods for SRAMs.pdf (5.71 MB, 下载次数: 788 )
发表于 2011-6-23 09:43:43 | 显示全部楼层
xiexie
发表于 2011-6-23 15:06:49 | 显示全部楼层
good.
发表于 2011-6-24 10:32:34 | 显示全部楼层
THANKS FOR SHARING!
发表于 2011-6-24 12:23:40 | 显示全部楼层
kankan








ding le
发表于 2011-6-24 16:59:01 | 显示全部楼层
good.
发表于 2011-7-1 02:26:47 | 显示全部楼层
Thanks for your information.......................
Thanks......................
发表于 2011-7-1 15:31:50 | 显示全部楼层
Thanks for your information.......................
发表于 2011-7-4 21:48:58 | 显示全部楼层
针对性很强的书。
发表于 2011-9-27 19:56:33 | 显示全部楼层
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